
Lengua
Busca
- 4th International SAXS/GISAXS Workshop (PDF)
Sep 09-11, Leoben, Austria - Navigated Atomic Force Microscopy - N8 NEOS
Sep 15, Free Webinar - 17th Bruker Users‘ Group Meetings 2010 - Single Crystal X-ray Diffraction
Sep 19-22, Karlsruhe, Germany - Good Diffraction Practice III - Powder XRD Instrumentation and Data Quality
Sep 30, Free Webinar - COM2010 - Conference of Metallurgists
Oct 03-06, Vancouver, British Columbia, Canada
![]() |
Difracción de rayos X
La Difracción de Rayos X (DRX) es un método de alta tecnología no destructivo para el análisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos, metales, minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de capa fina, cerámicas, célula solar y semiconductores. En las instituciones de la industria y de la investigación, DRX ha llegado a ser un método indispensable para la investigación y caracterización de materiales y el control de calidad. Ejemplos de aplicación incluyen el análisis de fase cualitativo y cuantitativo, la cristalografía, la determinación de estructura y relajación, investigaciones de textura y tensión residual, el entorno de muestra controlado, la microdifracción, nanomateriales, la automatización de laboratorio y proceso y el screening polimorfo de alto flujo.
Bruker AXS es la empresa líder a escala mundial para soluciones de difracción de rayos X avanzadas. La innovación continua en tubos de rayos X, sistemas ópticos de rayos X, detectores de rayos X, software y el manejo de muestras garantiza que Bruker AXS puede ofrecerle a Vd. una solución de difracción para cualquier tarea analítica. Además, los sistemas DRX de Bruker AXS se basan en la plataforma D8 común lo que asegura la modularidad para reequipamientos o reconfiguraciones futuros del sistema. Una gran variedad de sistemas ópticos intercambiables está disponible para condicionar el haz incidente.
El manejo de las muestras es casi ilimitado
Cambiamuestras, cámaras de temperatura y humedad, control de movimiento con 5 grados de libertad o el manejo automático de wafers de 300 mm están disponibles en la plataforma D8. Por lo que se refiere a los detectores, detectores DRX2 de punto unidimensiones y bidimensionales pueden ser optimizados para tareas analíticas especiales. El paquete de software DIFFRACplus suministra software de medida y análisis intuitivo y de fácil uso. La aplicación profesional, el departamento de venta, los cursos de formación y el servicio global están disponibles para soportar a nuestros clientes.
Más información
D2 CRYSO – The new X-Ray Diffraction Solution
D2 PHASER – X-ray Diffraction on a desktop
D4 ENDEAVOR – La solución de difracción de rayos X para un alto flujo de muestras
D8 FOCUS – El sistema especial para la difracción de polvos
D8 ADVANCE with DAVINCI – The 1st truly all-purpose Diffraction Solution
D8 DISCOVER with DAVINCI – Advanced X-ray Diffraction System for Materials Research Applications
D8 FABLINE – Un sistema analítico muy trabajador para los requerimientos de semiconductores


